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L'insegnamento introduce gli studenti ai principi e alle applicazioni delle tecniche di imaging e caratterizzazione composizionale, capaci di fornire la migliore risoluzione attualmente esistente, con focus sulla microscopia elettronica (EM). La microscopia elettronica si basa su principi fisici comuni, che verranno illustrati nel corso, ma può essere declinata in varie modalità: a scansione (SEM), a trasmissione (TEM), a trasmissione ad alta risoluzione (HRTEM) e a trasmissione a scansione (STEM). Di ogni modalità verranno presentate le basi fisiche, gli scopi, i vantaggi e i limiti. Inoltre, poiché la microscopia elettronica si basa sull'interazione tra un fascio di elettroni e un oggetto di cui si vuole comprendere forma, dimensione, eventuale struttura cristallina e composizione, quest'ultima anche spazialmente risolta, verranno introdotte le spettroscopie che sfruttano i segnali prodotti da tale interazione e capaci di fornire informazioni qualitative e quantitative sulla composizione chimica del campione osservato: è l'Analytical EM (AEM). L'obiettivo principale dell'insegnamento è quello di fornire agli studenti un'ampia carrellata delle modalità in cui la microscopia elettronica è declinata, insieme ai principi fisici su cui essa si basa, sottolineando come l'EM sia oggetto da decenni di continuo sviluppo e miglioramento, essendo capace di fornire contestualmente dettagli morfologici, strutturali e composizionali dei campioni osservabili che nessun'altra tecnica d'analisi è capace di produrre con analoga risoluzione spaziale.

• 2° Anno - 2° Semestre
• 6 CFU